[发明专利]测试装置无效
申请号: | 201210185984.6 | 申请日: | 2012-06-07 |
公开(公告)号: | CN103472346A | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 周海清 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种测试装置,用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊。所述测试装置包括一控制单元、一显示单元、一开关及第一至第四接触元件。测试时,所述第一及第二接触元件接触所述MOS管的漏极,所述第三接触元件接触所述MOS管的栅极,所述第四接触元件接触所述MOS管的源极,闭合所述开关,所述控制单元的引脚输出一控制信号给所述MOS管的栅极,若所述控制单元的信号接收引脚接收到高电平信号,所述显示单元显示所述MOS管存在虚焊和假焊;若所述控制单元的信号接收引脚接收到低电平信号,所述显示单元显示所述MOS管不存在虚焊和假焊。上述测试装置的测试结果准确且测试成本较低。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种测试装置,用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊,所述测试装置包括一控制单元、一与所述控制单元相连的显示单元、一开关及第一至第四接触元件,所述控制单元包括一电源引脚、一信号接收引脚、一信号输出引脚及一使能引脚,所述电源引脚与一电源相连,并通过一第一电阻与所述第一接触元件相连,还依次通过所述第一电阻及一第二电阻与所述使能引脚相连,所述信号接收引脚与所述第二接触元件相连,所述信号输出引脚与所述第三接触元件相连,所述开关的一端与所述使能引脚相连,所述开关的另一端接地并与所述第四接触元件相连,测试时,所述第一及第二接触元件接触所述MOS管的漏极与所述电路板上一第一电子元件之间的节点,所述第三接触元件接触所述MOS管的栅极与所述电路板上一第二电子元件之间的节点,所述第四接触元件接触所述MOS管的源极与所述电路板上一第三电子元件之间的节点,闭合所述开关,所述控制单元开始工作,所述信号输出引脚输出一控制信号给所述MOS管的栅极,若所述信号接收引脚接收到高电平信号,所述控制单元控制所述显示单元显示所述MOS管存在虚焊和假焊;若所述信号接收引脚接收到低电平信号,所述控制单元控制所述显示单元显示所述MOS管不存在虚焊和假焊。
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