[发明专利]测试装置及测试方法无效
| 申请号： | 201210170246.4 | 申请日： | 2012-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN102798774A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 大岛广美 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种测试装置，取得从被测试器件输出的时钟信号进行测试。具有：数据取得部，以与被测试器件输出的时钟信号对应的取样时钟的时序或与该测试装置的测试周期对应的时序信号的时序取得被测试器件输出的所述数据信号；判断部，基于将所述数据取得部取得的所述数据信号与期望值进行比较的比较结果判断所述被测试器件的好坏；指定部，指定所述数据取得部根据与所述取样时钟对应的时序或与所述时序信号对应的时序的哪一个取得数据信号。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，是对输出数据信号和表示所述数据信号取样时序的时钟信号的被测试器件进行测试的测试装置，其特征在于，包括：数据取得部，以与所述被测试器件输出的所述时钟信号对应的取样时钟的时序或与该测试装置的测试周期对应的时序信号的时序取得所述被测试器件输出的所述数据信号；判断部，基于将所述数据取得部取得的所述数据信号与期望值进行比较的比较结果判断所述被测试器件的好坏；指定部，指定所述数据取得部根据与所述取样时钟对应的时序或与所述时序信号对应的时序的哪一个取得所述数据信号。
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