[发明专利]应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法无效

专利信息
申请号: 201210168204.7 申请日: 2012-05-28
公开(公告)号: CN102703061A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 许小勇;庄申栋;张业伟;胡经国 申请(专利权)人: 扬州大学
主分类号: C09K11/54 分类号: C09K11/54;C09K11/02;C09D11/16
代理公司: 扬州苏中专利事务所(普通合伙) 32222 代理人: 许必元
地址: 225009 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,该方法通过制备出形貌均一,尺寸可控的ZnO量子点,并对制备出的ZnO量子点进行深紫外光照射验证其荧光性能,保证ZnO量子点具有较高的深紫外光选择性,最后对物品进行标记达到防伪功效。与传统荧光防伪方法相比,该方法所用材料ZnO量子点首次用于荧光防伪领域,工艺简单,成本低,防伪材料的制备过程无有毒副产物产生,对环境无污染;通过该方法生成的ZnO量子点洁净且纯度高,尺寸可调,具有较好的深紫外光选择性,防伪性能大为提高。
搜索关键词: 应用 zno 量子 进行 荧光 防伪 方法
【主权项】:
一种应用ZnO量子点进行荧光防伪的方法,其特征在于包括以下步骤:(1)制备ZnO量子点;(2)通过深紫外光照射ZnO量子点验证荧光性能;(3)用经验证的ZnO量子点标记物品进行防伪。
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