[发明专利]绝缘子RTV涂层老化的判断方法无效
| 申请号： | 201210168082.1 | 申请日： | 2012-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN102680559A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 屠幼萍;王景春;丁立健;陈聪慧;张辉;陈静静;王璁 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学 |
| 主分类号： | G01N27/60 | 分类号： | G01N27/60 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴贵明;余刚 |
| 地址： | 102206 北京市昌平区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种绝缘子RTV涂层老化的判断方法。该判断方法包括：对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片；对试片进行热刺激电流TSC试验；通过试验得到的TSC曲线计算试片的陷阱电荷量和陷阱能级；根据试片的陷阱电荷量和陷阱能级判断RTV涂层的老化程度。从微观电特性角度来进行绝缘子RTV涂层老化状态的评估，用陷阱电荷量和陷阱能级为特征量对老化程度进行量化，为进一步制定绝缘子复涂RTV材料的时间和方案提供了依据，解决了现有技术中绝缘子RTV涂层老化的判断方法准确度不高的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘子 rtv 涂层 老化 判断 方法 | ||
【主权项】：
一种绝缘子RTV涂层老化的判断方法，其特征在于，包括：对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片；对所述试片进行热刺激电流TSC试验；通过试验得到的TSC曲线计算所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级；根据所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级判断所述RTV涂层的老化程度。
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