[发明专利]一种耐腐蚀ZnO薄膜及其制备方法有效
申请号: | 201210160698.4 | 申请日: | 2012-05-22 |
公开(公告)号: | CN102691038A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 刘斌;沈鸿烈;王威;岳之浩 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/35 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 李纪昌 |
地址: | 210016*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种耐腐蚀ZnO薄膜及其制备方法,属于半导体材料与器件技术领域。ZnO薄膜通过射频磁控共溅射法制备,所用的靶材为Sn靶、本征ZnO靶和AZO靶(Al掺杂的ZnO靶),制备Sn掺杂的ZnO薄膜和Al-Sn共掺杂的ZnO薄膜。本征ZnO薄膜掺入Sn之后,其耐腐蚀性得到改善;对Al掺杂的ZnO薄膜掺入Sn之后(Al-Sn共掺的ZnO薄膜)其耐腐蚀性能也得到改善,而且Al-Sn共掺的ZnO薄膜相对于Sn单独掺杂的ZnO薄膜其耐腐蚀性能更好。本方法制作工艺简单,沉积温度低,所用材料和工艺对环境无污染,制得的ZnO薄膜具备耐腐蚀和透明导电功能,可以提高ZnO薄膜材料和器件在恶劣环境下工作的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 腐蚀 zno 薄膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种耐腐蚀ZnO薄膜,包括ZnO,其特征在于:所制备的薄膜中还含有Sn,所述Sn掺杂ZnO薄膜的电阻率6.99×10-2Ωcm~1.06×10-1Ωcm,400~900nm波段的平均透过率为69%~82%,极化电阻6.20×104Ω~1.20×106Ω。
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