[发明专利]半导体封装基板无效
申请号: | 201210156320.7 | 申请日: | 2012-05-18 |
公开(公告)号: | CN103325739A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 赖奎佑 | 申请(专利权)人: | 南茂科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/00 | 分类号: | H01L23/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明揭露一种半导体封装基板,其包含用来承载芯片的可挠性基材与设置于可挠性基材上的测试垫、引脚以及阻挡层。引脚的一端电性连接芯片,另一端则连接测试垫。阻挡层可设置于测试垫的周围,并与测试垫间形成凹陷部。当一探针接触测试垫以测试芯片的电性功能时,阻挡层可阻挡探针避免其滑出测试垫。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 | ||
【主权项】:
一种半导体封装基板,包含:一可挠性基材,用以承载一芯片;多个测试垫,设置于该可挠性基材上,所述多个测试垫是用以供一测试探针接触;多个引脚,设置于该可挠性基材上,各所述多个引脚的一端电性连接该芯片,另一端连接所述多个测试垫的其中之一;以及一阻挡层,设置于该可挠性基材上并位于所述多个测试垫中的至少一者的周围,该阻挡层与所述多个测试垫的该至少一者间形成一凹陷部。
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