[发明专利]半导体封装基板无效

专利信息
申请号: 201210156320.7 申请日: 2012-05-18
公开(公告)号: CN103325739A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 赖奎佑 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈亮
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明揭露一种半导体封装基板,其包含用来承载芯片的可挠性基材与设置于可挠性基材上的测试垫、引脚以及阻挡层。引脚的一端电性连接芯片,另一端则连接测试垫。阻挡层可设置于测试垫的周围,并与测试垫间形成凹陷部。当一探针接触测试垫以测试芯片的电性功能时,阻挡层可阻挡探针避免其滑出测试垫。
搜索关键词: 半导体 封装
【主权项】:
一种半导体封装基板,包含:一可挠性基材,用以承载一芯片;多个测试垫,设置于该可挠性基材上,所述多个测试垫是用以供一测试探针接触;多个引脚,设置于该可挠性基材上,各所述多个引脚的一端电性连接该芯片,另一端连接所述多个测试垫的其中之一;以及一阻挡层,设置于该可挠性基材上并位于所述多个测试垫中的至少一者的周围,该阻挡层与所述多个测试垫的该至少一者间形成一凹陷部。
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