[发明专利]光电转换芯片测试装置及其测试方法

摘要

一种光电转换芯片测试装置及测试方法，用于测试一个光电转换芯片，所述光电转换芯片测试方法包括以下步骤：设定输出光功率值；根据所述输出光功率值向所述光电转换芯片提供输入激光；测量所述光电转换芯片转换的电流值；根据所述输出光功率值、测量到的所述光电转换芯片转换的电流值计算所述光电转换芯片的光电转换效率参数；及根据所述光电转换效率参数判断所述光电转换芯片是否满足所述预定的光电特性。

主权项

一种光电转换芯片测试装置，用于测试一个光电转换芯片是否满足预定的光电特性，所述光电转换芯片用于在满足所述预定的光电特性后被封装成光侦测器，所述光电转换芯片测试装置包括：一个激光源用于发出激光并投射到所述光电转换芯片上；一个电流测量装置用于测试所述光电转换芯片转换的电流值；及一个处理器，其包括一个控制单元，用于控制所述激光源依据设定的光功率值向所述光电转换芯片发出激光并控制所述电流测量装置测量所述光电转换芯片转换的电流值；一个计算单元，用于根据所述设定的光功率值及所述光电转换芯片转换的电流值计算所述光电转换芯片的光电转换效率参数；一个用户接口；及一个数据生成单元，用于将所述计算单元计算得出的所述光电转换效率参数显示于所述用户接口以供判断所述光电转换芯片的光电特性是否满足预定的光电特性。