[发明专利]通用的多种材料间全限制量子点的自对准制备方法无效
申请号: | 201210088596.6 | 申请日: | 2012-03-29 |
公开(公告)号: | CN102623307A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 付英春;王晓峰;张加勇;白云霞;梁秀琴;马慧莉;季安;杨富华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;B82Y40/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种通用的多种材料间全限制量子点的自对准制备方法,包括:在衬底上依次淀积生长电热绝缘材料层、第一功能材料层和牺牲材料层;旋涂SU-8胶并电子束曝光;干法刻蚀至电热绝缘材料层的上表面;淀积第二功能材料层;经电子束曝光形成横向的条形纳米量级的SU-8胶条,并跨越由第一功能材料层;干法刻蚀第二功能材料层至电热绝缘材料层的上表面;腐蚀去除牺牲材料层,暴露出第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;干法刻蚀去除第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;超声-剥离,制备出第一功能材料层全限制在第二功能材料层间的水平器件结构。本发明藉由线宽控制精度高、定位精确、可拓展性好、制备简单、可靠性高、制备良品率高、研发成本低、可移植性好、经济高效的优点。 | ||
搜索关键词: | 通用 多种 材料 限制 量子 对准 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种通用的多种材料间全限制量子点的自对准制备方法,该方法包括:步骤1:在衬底上生长一层抗腐蚀的电热绝缘材料层,在该电热绝缘材料层上依次淀积第一功能材料层和牺牲材料层;步骤2:在牺牲材料层上旋涂SU‑8胶并电子束曝光,形成纵向的条形纳米量级SU‑8胶掩模;步骤3:通过该SU‑8胶掩模,干法刻蚀至电热绝缘材料层的上表面;步骤4:在电热绝缘材料层、条形的第一功能材料层、牺牲材料层和SU‑8胶掩模结构的裸露表面,淀积第二功能材料层;步骤5:在第二功能材料层上旋涂SU‑8胶并电子束曝光,形成横向的条形纳米量级的SU‑8胶条,并跨越由第一功能材料层、牺牲材料层和SU‑8胶掩模叠成的纵向条形结构;步骤6:通过SU‑8胶条掩模,干法刻蚀第二功能材料层至电热绝缘材料层的上表面;步骤7:腐蚀去除牺牲材料层,暴露出第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;步骤8:通过第二功能材料层上部的SU‑8胶条掩模,干法刻蚀去除第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;步骤9:超声‑剥离,制备出第一功能材料层全限制在第二功能材料层间的水平器件结构,完成制备。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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