[发明专利]通用的多种材料间全限制量子点的自对准制备方法无效

专利信息
申请号: 201210088596.6 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN102623307A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 付英春;王晓峰;张加勇;白云霞;梁秀琴;马慧莉;季安;杨富华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;B82Y40/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种通用的多种材料间全限制量子点的自对准制备方法,包括:在衬底上依次淀积生长电热绝缘材料层、第一功能材料层和牺牲材料层;旋涂SU-8胶并电子束曝光;干法刻蚀至电热绝缘材料层的上表面;淀积第二功能材料层;经电子束曝光形成横向的条形纳米量级的SU-8胶条,并跨越由第一功能材料层;干法刻蚀第二功能材料层至电热绝缘材料层的上表面;腐蚀去除牺牲材料层,暴露出第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;干法刻蚀去除第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;超声-剥离,制备出第一功能材料层全限制在第二功能材料层间的水平器件结构。本发明藉由线宽控制精度高、定位精确、可拓展性好、制备简单、可靠性高、制备良品率高、研发成本低、可移植性好、经济高效的优点。
搜索关键词: 通用 多种 材料 限制 量子 对准 制备 方法
【主权项】:
一种通用的多种材料间全限制量子点的自对准制备方法,该方法包括:步骤1:在衬底上生长一层抗腐蚀的电热绝缘材料层,在该电热绝缘材料层上依次淀积第一功能材料层和牺牲材料层;步骤2:在牺牲材料层上旋涂SU‑8胶并电子束曝光,形成纵向的条形纳米量级SU‑8胶掩模;步骤3:通过该SU‑8胶掩模,干法刻蚀至电热绝缘材料层的上表面;步骤4:在电热绝缘材料层、条形的第一功能材料层、牺牲材料层和SU‑8胶掩模结构的裸露表面,淀积第二功能材料层;步骤5:在第二功能材料层上旋涂SU‑8胶并电子束曝光,形成横向的条形纳米量级的SU‑8胶条,并跨越由第一功能材料层、牺牲材料层和SU‑8胶掩模叠成的纵向条形结构;步骤6:通过SU‑8胶条掩模,干法刻蚀第二功能材料层至电热绝缘材料层的上表面;步骤7:腐蚀去除牺牲材料层,暴露出第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;步骤8:通过第二功能材料层上部的SU‑8胶条掩模,干法刻蚀去除第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;步骤9:超声‑剥离,制备出第一功能材料层全限制在第二功能材料层间的水平器件结构,完成制备。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210088596.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top