[发明专利]对象检测分类器生成方法和设备、图像对象检测方法和设备有效
| 申请号： | 201210085214.4 | 申请日： | 2012-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN103366177A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 胥立丰;吴波 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 康建忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了对象检测分类器生成方法和设备、图像对象检测方法和设备。该用于生成图像区域中的由一个中心单元和一个相邻单元构成的二单元结构的二单元结构特征描述符的方法包括计算步骤，用于分别计算中心单元和相邻单元中的梯度统计值，以及比较步骤，用于比较在计算步骤中所计算的中心单元和相邻单元中的梯度统计值，以便获得用于描述二单元结构的特征的二单元结构特征描述符，其中所述相邻单元是所述图像区域中包围所述中心单元并且与所述中心单元相邻的八个单元之一。 | ||
| 搜索关键词： | 对象 检测 分类 生成 方法 设备 图像 | ||
【主权项】：
一种用于生成图像区域中的二单元结构的二单元结构特征描述符的方法，一个所述二单元结构由一个中心单元和一个相邻单元构成，所述相邻单元是所述图像区域中包围所述中心单元并且与所述中心单元相邻的八个单元之一，该方法包括：计算步骤，用于分别计算中心单元和相邻单元中的梯度统计值。比较步骤，用于比较所计算的中心单元和相邻单元中的梯度统计值，以便获得用于描述二单元结构的特征的二单元结构特征描述符，其中，所述二单元结构特征描述符是1比特二进制值。
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