[发明专利]一种制备区熔硅单晶的铸造区熔气掺法无效
申请号: | 201210059754.5 | 申请日: | 2012-03-08 |
公开(公告)号: | CN102534751A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 张雪囡;高树良;王彦君;李建宏;沈浩平 | 申请(专利权)人: | 天津市环欧半导体材料技术有限公司 |
主分类号: | C30B13/12 | 分类号: | C30B13/12;C30B13/28;C30B29/06 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 莫琪 |
地址: | 300384 天津市西*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种制备区熔硅单晶的铸造区熔气掺法,首先采用铸造法制备多晶硅,之后对多晶硅进行切方、滚磨、开槽和开圆锥机加工,以加工后的多晶硅棒作为区熔硅单晶原料,采用区熔气掺法进行拉晶,且在开始拉晶时通入定量的掺杂气后便停止通入掺杂气;若区熔单晶硅掺杂剂目标浓度为c0,则控制硅多晶的掺杂剂平均浓度为c0,k为掺杂剂偏析系数;由于多晶料棒的掺杂剂浓度较为均匀,且保持阶段无需进行气掺,则硅熔体浓度均匀性非常高,有效提高了区熔单晶径向电阻率的均匀性;相比与NTD法,成本较低,且生产周期较短;与区熔气掺法和直拉区熔法相比,径向电阻率均匀性得到了有效提高。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 区熔硅单晶 铸造 区熔气掺法 | ||
【主权项】:
一种制备区熔硅单晶的铸造区熔气掺法,其特征在于,采用铸造法制备多晶硅,之后对多晶硅进行切方、滚磨、开槽和开圆锥机加工,以加工后的多晶硅棒作为区熔硅单晶原料,采用区熔气掺法进行拉晶,且在开始拉晶时通入定量的掺杂气,掺杂气可以是磷烷或硼烷;掺杂气为磷烷时,硅熔体中掺杂剂浓度达到值c0/k=1.7×1014 atom/cm3至6.5×1021atom/cm3范围之后即停止通入掺杂气;掺杂气为硼烷时,硅熔体中掺杂剂浓度达到值c0/k=7.6×1013到1.6×1021atom/cm3范围之后即停止通入掺杂气;若区熔单晶硅掺杂剂目标浓度为c0则控制硅多晶的掺杂剂平均浓度值为c0,k为掺杂剂偏析系数;所述方法包括如下步骤: a) 采用铸造法制备多晶硅,然后对多晶硅进行切方、滚磨、开槽和开圆锥机加工;b) 以机加工后制得的多晶硅棒为原料,采用区熔气掺法进行拉晶,通过现有技术,控制多晶硅棒横截面掺杂剂浓度均为初始浓度c0;区熔拉晶时,从扩肩阶段开始通入定量掺杂气,通过现有气掺技术,在保持阶段使得硅熔体中掺杂剂的浓度值达到:c0/k,之后停止通入掺杂气;c) 保持阶段,假设结晶体积为V0,则流入的新熔体体积为V0,硅熔体体积恒定不变,结晶的硅单晶中掺杂剂浓度为c0,则硅熔体掺杂剂减少量为c0*V0,而新增加的掺杂剂为c0*V0,掺杂剂总量不变,最终,硅熔体掺杂剂浓度维持在c0/k,使硅单晶的浓度也稳定在c0这一目标值; 根据上述步骤制备获得的区熔硅单晶轴向及径向电阻率均匀性达到RRV<8%。
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