[发明专利]基于钴铁氧体纳米薄膜的电阻开关及制备方法有效

专利信息
申请号: 201210048004.8 申请日: 2012-02-29
公开(公告)号: CN102544366A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 白海力;金朝;米文博 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;C23C14/35;C23C14/06
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 王丽
地址: 300072 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及基于钴铁氧体纳米薄膜的电阻开关及制备方法,利用反应溅射金属Fe靶和Co靶的方法制备CoFe2O4薄膜;并把CoFe2O4薄膜生长在镀有金属Pt的Si基底上,在CoFe2O4薄膜上表面涂银导电胶,构成Ag/CoFe2O4/Pt三明治结构;测量Ag/CoFe2O4/Pt三明治结构电阻开关效应。本发明首次发现CoFe2O4纳米薄膜的电阻开关,具有很好的稳定性,电阻开关能够稳定循环200次;用反应共溅射法成功制备了高质量CoFe2O4薄膜,相比其它薄膜制备技术,靶材选择简单,与射频溅射陶瓷靶方法相比,我们采用金属Fe和Co靶作为靶材来制备钴铁氧体薄膜,更容易实现工业化生产。
搜索关键词: 基于 铁氧体 纳米 薄膜 电阻 开关 制备 方法
【主权项】:
一种基于钴铁氧体纳米薄膜的电阻开关,其特征是利用反应溅射金属Fe靶和Co靶的方法制备CoFe2O4薄膜;并把CoFe2O4薄膜生长在镀有金属Pt的Si基底上,在CoFe2O4薄膜上表面涂银导电胶,构成Ag/CoFe2O4/Pt三明治结构;测量Ag/CoFe2O4/Pt三明治结构电阻开关效应。
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