[发明专利]半导体元件及其制作方法无效
申请号: | 201210043163.9 | 申请日: | 2012-02-23 |
公开(公告)号: | CN103165666A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 张翼;林岳钦;张嘉华;金海光 | 申请(专利权)人: | 财团法人交大思源基金会 |
主分类号: | H01L29/51 | 分类号: | H01L29/51;H01L21/334;H01L21/336 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李颖 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提出一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含:三五族半导体层;一氧化铝层,形成于该三五族半导体层上;以及一镧系氧化物层,形成于该氧化铝层上。该制造半导体元件的方法包含:形成一氧化铝层于三五族半导体层与一镧系氧化物层之间,以防止该三五族半导体层与该镧系氧化物层之间的原子扩散作用。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种金氧半导体元件,包含:三五族半导体层;一氧化铝层,形成于该三五族半导体层上;以及一镧系氧化物层,形成于该氧化铝层上。
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