[发明专利]识别化学机械研磨设备的研磨性能的方法在审

专利信息
申请号: 201210030428.1 申请日: 2012-02-10
公开(公告)号: CN102554768A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 李协吉;张泽松;程君;李志国 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: B24B37/26 分类号: B24B37/26;B24B37/04
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 根据本发明的识别化学机械研磨设备的研磨性能的方法包括:为研磨垫提供U型细磨垫;使修整部件仅仅沿固定修整方向在所述U型细磨垫上进行修整;测试U型缓冲垫的弯曲部分的抗弯强度;以及根据U型缓冲垫的弯曲部分的抗弯强度判断化学机械研磨设备的研磨性能。所述测试U型缓冲垫的弯曲部分的抗弯强度的步骤包括:在所述U型细磨垫的弯曲部分上放置测量重块,该测量重块W的重量已知;测量所述U型细磨垫的弯曲部分的长度、以及所述U型细磨垫由于所述测量重块的重量而下压的深度;以及根据所述长度以及所述深度计算U型缓冲垫的弯曲部分的抗弯强度。
搜索关键词: 识别 化学 机械 研磨 设备 性能 方法
【主权项】:
一种识别化学机械研磨设备的研磨性能的方法,其特征在于包括:为研磨垫提供U型细磨垫;使修整部件仅仅沿固定修整方向在所述U型细磨垫上进行修整;测试U型缓冲垫的弯曲部分的抗弯强度;以及根据U型缓冲垫的弯曲部分的抗弯强度判断化学机械研磨设备的研磨性能。
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