[发明专利]存储器边缘单元有效
申请号: | 201210030368.3 | 申请日: | 2012-02-10 |
公开(公告)号: | CN102637689A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 郑宏正;李明怡;潘国华;陈蓉萱;田丽钧;李政宏;廖宏仁 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11 | 分类号: | H01L27/11 |
代理公司: | 北京德恒律师事务所 11306 | 代理人: | 陆鑫;房岭梅 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种存储器边缘单元,并且,具体地涉及一种电路,该电路包括第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管、第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管、第三NMOS晶体管和第四NMOS晶体管。该PMOS晶体管和NMOS晶体管被配置用于提供具有第一参考电压的第一参考电压节点和具有第二参考电压的第二参考电压节点。该第一参考电压和第二参考电压分别作为存储器单元的第一参考电压和第二参考电压。 | ||
搜索关键词: | 存储器 边缘 单元 | ||
【主权项】:
一种电路包括:第一PMOS晶体管,具有第一PMOS漏极、第一PMOS源极和第一PMOS栅极;第二PMOS晶体管,具有第二PMOS漏极、第二PMOS源极和第二PMOS栅极;第一NMOS晶体管,具有第一NMOS漏极、第一NMOS源极和第一NMOS栅极;第二NMOS晶体管,具有第二NMOS漏极、第二NMOS源极和第二NMOS栅极;第三NMOS晶体管,具有第三NMOS漏极、第三NMOS源极和第三NMOS栅极;以及第四NMOS晶体管,具有第四NMOS漏极、第四NMOS源极和第四NMOS栅极;其中,所述第一PMOS漏极、所述第一PMOS源极、电压源、所述第二PMOS栅极和所述第二NMOS栅极连接在一起;所述第一PMOS栅极、所述第一NMOS栅极、所述第二PMOS漏极、所述第二NMOS漏极和所述第四NMOS源极连接在一起;所述第三NMOS栅极、所述第三NMOS漏极、所述第一NMOS漏极和所述第二NMOS源极连接在一起并且作为第一参考电压节点;所述第四NMOS漏极与第二参考电压节点连接;所述第一参考电压节点的第一电压作为存储器单元的第一参考电压;并且所述第二参考电压节点的第二电压作为所述存储器单元的第二参考电压。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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