[发明专利]一种基于正交光楔分光特性及焦斑重构算法的激光远场焦斑测量方法有效
| 申请号： | 201210026465.5 | 申请日： | 2012-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN102564575A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 贺元兴;李新阳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 顾炜;卢纪 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于正交光楔分光特性及焦斑重构算法的激光远场焦斑测量方法，该方法的测量装置包括一对正交光楔、聚焦透镜、CCD成像器件和计算机系统，入射激光束经两块楔角朝向彼此正交的光楔器件的分束及聚焦透镜的会聚后，在位于透镜焦平面内的CCD光敏面上形成峰值强度依次衰减的子光斑阵列，采取有效的方法将所测得的各子光斑进行拼接融合，最终重构得到完整的激光远场焦斑强度分布。本发明可以大幅度拓展CCD的测量动态范围，将实际焦斑的大量高频旁瓣信息从CCD背景噪声中提取出来，使准确测量和评估光束质量成为可能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 正交 分光 特性 焦斑重构 算法 激光 远场焦斑 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于正交光楔分光特性及焦斑重构算法的激光远场焦斑测量方法，其特征在于：该方法的测量装置包括：一对正交光楔器件(1和2)、聚焦透镜(3)、CCD成像器件(4)和计算机系统(5)；其中，一对正交光楔器件即两光楔的楔角彼此正交，并且该两光楔于聚焦透镜(3)前表面位置密接放置，CCD成像器件(4)的光敏面与聚焦透镜的焦平面重合；待测量激光束经正交光楔组(1和2)分束后被聚焦透镜(3)会聚，在CCD成像器件(4)光敏面上不同探测区域内形成不同能量衰减的子光斑，计算机系统(5)采集CCD成像器件(4)输出的数据，采取有效的焦斑拼接和重构方法实现高动态范围焦斑的测量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所，未经中国科学院光电技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210026465.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
