[发明专利]一种医用薄膜厚度测量设备在审
| 申请号： | 201210015708.5 | 申请日： | 2012-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN103217113A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 魏志凌;宁军;夏发平 | 申请（专利权）人： | 昆山思拓机器有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215347 江苏省苏州市昆山*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种医用薄膜厚度测量设备，包括有底座、设置于底座上的工件台、设置于工件台上的一框式结构、设置于框式结构的上、下横梁上的双立式测头；所述双立式测头包括有上测头与下测头，其中上测头能根据医用生物工程组织薄膜厚度变化而自动调整相对高度，而下测头具有调整与上测头光束同轴度功能；测量过程中，上、下测头同步左右运动，而被测的医用生物工程组织薄膜被固定在两个测头中间的工件台上，并随工件台做前后运动。本发明采用非接触式测量方式、双立式测头布局，自动对整个幅面的医用生物工程组织薄膜进行扫描式测量，测量过程对医用生物工程组织薄膜无任何损伤，测量精度高、性能稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 医用 薄膜 厚度 测量 设备 | ||
【主权项】：
一种医用薄膜厚度测量设备，包括有底座、设置于底座上的工件台 ，其特征在于：还包括有设置于工件台上的一框式结构、设置于框式结构的上、下横梁上的双立式测头；所述双立式测头包括有上测头与下测头，其中上测头能根据医用生物工程组织薄膜厚度变化而自动调整相对高度，而下测头具有调整与上测头光束同轴度功能；测量过程中，上、下测头同步左右运动，而被测的医用生物工程组织薄膜被固定在两个测头中间的工件台上，并随工件台做前后运动。
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