[发明专利]用于扫描显微成像样本的方法和装置有效
| 申请号： | 201210006360.3 | 申请日： | 2012-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN102621111A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | H·比尔克;B·威兹高斯盖;H·尼森 | 申请（专利权）人： | 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 德国韦*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于扫描显微成像样本(28)的方法和装置。采取下述措施，在相继的扫描时间间隔中通过扫描光束(14)扫描多个样本点，在相关扫描时间间隔内，反复感测相应扫描样本点发射的辐射强度，依据相应扫描样本点上感测的强度，确定出强度平均值，作为平均值图像点信号，并将该平均值图像点信号组合成平均值光栅图像信号。进一步采取措施，以依据相应扫描样本点上感测的强度，另外确定出强度方差值，作为方差图像点信号，并将该方差图像点信号组合成方差光栅图像信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 扫描 显微 成像 样本 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于扫描显微成像样本(28)的方法，包括下述步骤：在相继的扫描时间间隔中通过扫描光束(14)扫描多个样本点，在相关扫描时间间隔内，反复感测相应扫描样本点发射的辐射强度，依据相应扫描样本点上感测的强度，确定出强度平均值，作为平均值图像点信号，并且将该平均值图像点信号组合成平均值光栅图像信号，其中，依据相应扫描样本点上感测的强度，另外确定出强度方差值，作为方差图像点信号，并且将该方差图像点信号组合成方差光栅图像信号。
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