[发明专利]中子探测器有效
| 申请号： | 201110459081.8 | 申请日： | 2009-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN102608651A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | 李元景;杨祎罡;李铁柱;张勤俭;吴彬 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | G01T3/04 | 分类号： | G01T3/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周春梅 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种中子探测器。其中，中子探测器包括中子慢化体，其适于吸收通过其中的X射线，并将快中子慢化为热中子；和热中子探测器，其适于探测所述热中子以获得关于所述快中子的信息。本发明通过设置中子慢化体能够排除X射线对快中子测量的干扰，从而提高了中子测量的准确性。并通过同时获得X射线和中子的两种不同的衰减信息，提高了对检测物体的识别能力。 | ||
| 搜索关键词： | 中子 探测器 | ||
【主权项】：
1.一种用于物质识别的中子探测器，包括：中子慢化体，其适于吸收通过其中的X射线，并将快中子慢化为热中子；和热中子探测器，其适于探测所述热中子以获得关于所述快中子的信息，其基于下列公式识别物质，![]()
其中，t为被检测物体的厚度；μn(t)为光中子的衰减系数；μX(t)为X射线的衰减系数；In(t)为入射光中子在被检测物体厚度t处的强度, In(0)则为入射光中子的未衰减强度；IX(t)为入射X射线在被检测物体厚度t处的强度, IX(0)则为入射X射线的未衰减强度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学，未经同方威视技术股份有限公司;清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110459081.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：笔记型计算机的组装结构
- 下一篇：一种冰箱用具有复合功能的隔板组件
