[发明专利]用于转移石墨舟上半导体晶粒的吸盘装置有效
申请号: | 201110457925.5 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN102543815A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 葛永明;韦德富;张洪海;任志龙 | 申请(专利权)人: | 苏州固锝电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/677 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 马明渡 |
地址: | 215153 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种用于转移石墨舟上半导体晶粒的吸盘装置,包括把手和盖板,一底板安装于所述盖板下表面;由上塞体和下塞体组成的活动通孔塞与所述漏气通孔间隙配合安装,所述上导气筋的宽度大于所述下导气筋的宽度,所述下端面部和上端面部的直径大于所述漏气通孔的直径,所述活动通孔塞的上端面部和下端面部之间的距离大于漏气通孔的厚度,从而保证此活动通孔塞可沿漏气通孔上下行进;当活动通孔塞的下塞体封闭漏气通孔时,气流从所述吸嘴流入,当活动通孔塞的上塞体封闭漏气通孔时,气流从所述漏气通孔流入。本发明吸盘装置改善了半导体晶粒制造过程中吸附晶粒时容易将晶粒压伤的技术问题,并大大提高了吸附率,从而提高了产品良率,降低资源损耗。 | ||
搜索关键词: | 用于 转移 石墨 上半 导体 晶粒 吸盘 装置 | ||
【主权项】:
一种用于转移石墨舟上半导体晶粒的吸盘装置,所述石墨舟具有放置半导体晶粒(24)的晶粒凹槽(25),所述吸盘装置包括:内设有第一空腔(1)的把手(2)和盖板(3),此把手(2)一端设有与所述第一空腔(1)连通的气嘴(4),此把手(2)下表面设有至少一个与所述第一空腔(1)连通的第一通气孔(5),所述盖板(3)上设有与所述第一通气孔(5)相应的第二通气孔(6),一气体连接管(7)连通所述第一通气孔(5)和第二通气孔(6);其特征在于:一底板(8)安装于所述盖板(3)下表面,此底板(8)与盖板(3)通过侧板(9)形成与所述第一空腔(1)连通的第二空腔(10),所述底板(8)上设置有若干个用于吸附所述半导体晶粒的吸嘴(11)和至少两个漏气通孔(12);由上塞体(13)和下塞体(14)组成的活动通孔塞(15)与所述漏气通孔(12)间隙配合安装,此上塞体(13)具有上端面部(16)和固定于上端面部(16)下表面中央的上固定柱(17),此上固定柱(17)周边具有至少两个相间排列的上导气筋(18),所述下塞体(14)具有下端面部(19)和固定于下端面部(19)上表面中央的下固定柱(20),此下固定柱(20)周边具有至少两个相间排列的下导气筋(21),所述上塞体(13)位于第二空腔(10)内并嵌入所述漏气通孔(12)内,所述下塞体(14)从底板(8)下方嵌入所述漏气通孔(12)内且下塞体(14)的下固定柱(20)与上塞体(13)的上固定柱(17)固定连接,所述上导气筋(18)的宽度大于所述下导气筋(21)的宽度,所述下端面部(19)和上端面部(16)的直径大于所述漏气通孔(12)的直径,所述活动通孔塞(15)的上端面部(16)和下端面部(19)之间的距离大于漏气通孔(12)的厚度,从而保证此活动通孔塞(15)可沿漏气通孔(12)上下行进;当活动通孔塞(15)的下塞体(14)封闭漏气通孔(12)时,气流从所述吸嘴(11)流入,当活动通孔塞(15)的上塞体(13)封闭漏气通孔(12)时,气流从所述漏气通孔(12)流入。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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