[发明专利]一种检测法拉第工作状态的方法在审

专利信息
申请号: 201110456274.8 申请日: 2011-12-31
公开(公告)号: CN103185893A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 胡东京 申请(专利权)人: 北京中科信电子装备有限公司
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 101111 北京市中关村科*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种检测法拉第工作状态的方法,该方法是在离子注入机测束法拉第上面安装状态检测装置,然后通过设定自检电路进行检测。此检测装置包括:一绝缘块盖板(1),一绝缘块(2),一传感铜片(3),一绝缘块支架(4),和一法拉第自检电路(5)。本发明能够检测法拉第是否处于正常工作状态,确保法拉第测量束流的准确性,提高了离子注入机的可靠性。本发明涉及离子注入装置,隶属于半导体制造领域。
搜索关键词: 一种 检测 法拉第 工作 状态 方法
【主权项】:
一种检测法拉第工作状态的方法,该方法利用检测装置安装在离子注入机的测束法拉第上,对法拉第的状态进行检测,以确保法拉第能正常进行测束工作。其特征在于:利用检测装置和电路,在法拉第测量束流前预先检测其本身状态,自检正常则可以正常测量束流,如自检为非正常状态,则法拉第已经损坏,不能正常测束或测量不准,须立即更换。避免在法拉第损坏状态下导致束流测量不准,或设备损坏等问题。
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