[发明专利]存储器测试方法无效
| 申请号： | 201110448516.9 | 申请日： | 2011-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN103187103A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 刘文媛;罗弘 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司第六三一研究所 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 姚敏杰 |
| 地址： | 710068 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种存储器测试方法，包括1)写入数据；2)读取数据；3)若待测试的存储器的地址线的位数低于或等于地址发生器ATE地址线的位数，利用地址发生器ATE将读取的数据与写入的数据是否相同来判断待测试的存储器的所有存储单元是否正常工作；若待测试的存储器的地址线的位数高于地址发生器ATE地址线的位数，将待测试的存储器的地址线的位数分为低位地址线以及高位地址线；按照固定位的递增将测试存储器的所有存储单元分块，固定位从全0增加至全1，每增加1就分为一个存储单元；低位地址线连接ATE地址发生器，由地址发生器ATE自动产生地址数据。本发明具有可有效利用ATE资源、减少测试图形编写时间以及可提高编程的效率的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器测试方法，其特征在于：所述存储器测试方法包括以下步骤：1)对待测试的存储器的所有存储单元中写入数据；2)读取记载于待测试的存储器中的所有存储单元中的数据；3)判断待测试的存储器的地址线的位数与地址发生器ATE地址线的位数的关系；若待测试的存储器的地址线的位数低于或等于地址发生器ATE地址线的位数，则直接进行步骤4)；若待测试的存储器的地址线的位数高于地址发生器ATE地址线的位数，则进行步骤5)；4)利用地址发生器ATE将步骤2)中所读取的数据与步骤1)中所写入的数据是否相同来判断待测试的存储器的所有存储单元是否正常工作；5)将待测试的存储器的地址线的位数分为低位地址线以及高位地址线；所述高位地址线作为固定位，按照固定位的递增将测试存储器的所有存储单元分块，固定位从全0增加至全1，每增加1就分为一个存储单元；所述低位地址线依次连接ATE地址发生器，由地址发生器ATE自动产生地址数据。
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