[发明专利]基于缺陷地结构的微带延迟线有效

专利信息
申请号: 201110441316.0 申请日: 2011-12-26
公开(公告)号: CN102496768A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 吕翼;李伟;张龙;唐盘良;朱勇;董姝 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
主分类号: H01P9/00 分类号: H01P9/00;H01P9/04
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 王海权
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明公开了一种基于缺陷地结构的微带延迟线,包括微带延迟线结构,该结构包括介质板,所述介质板的正面为任意结构的左手延迟线或左右手复合结构延迟线,所述介质板的背面为去掉了部分本体的金属面,去掉的部分与正面延迟线相匹配构成的缺陷地结构等效于并联电感;还包括设置于电路板两侧的电极,以及设置于微带延迟线两侧且与微带延迟线电连接的射频接头,本发明充分利用了左手或左右手延迟线的高时延低插损特性,以及缺陷地结构的易实现、易调谐和易加工的特性,相比于常规的微带延迟线,具有尺寸小、插损小、精度高、可靠性高的优点。
搜索关键词: 基于 缺陷 结构 微带 延迟线
【主权项】:
基于缺陷地结构的微带延迟线,其特征在于:包括微带延迟线结构,包括介质板,所述介质板的正面为任意结构的左手延迟线或左右手复合结构延迟线,所述介质板的背面为去掉了部分本体的金属面,去掉的部分与正面延迟线相匹配构成的缺陷地结构等效于并联电感;射频接头,设置于微带延迟线两侧,且与微带延迟线结构电连接。
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