[发明专利]PCI-E信号测试装置

摘要

一种PCI-E信号测试装置用于测试主板的若干待测PCI-E信号，该PCI-E信号测试装置包括一用于连接该主板的PCI-E插槽的连接器、与该待测PCI-E信号相同数量的第一开关和连接端子、编码器和微处理器。该第一开关用于选择测试信号的类型，该编码器将该第一开关所输出的信号转换为二进制数据，该微处理根据该二进制数据输出预定的时钟信号至该中央处理器，以使得该中央处理器发送对应的PCI-E信号至该PCI-E插槽。上述PCI-E信号测试装置测试准确且操作简便。

主权项

一种PCI‑E信号测试装置，用于测试主板的若干待测PCI‑E信号，包括：一连接器，用于连接该主板的PCI‑E插槽，该连接器包括与该PCI‑E插槽的金属端子对应的若干金手指，当该连接器插接至该PCI‑E插槽时，该连接器的金手指分别对应连接该PCI‑E插槽的金属端子；与该待测PCI‑E信号种类具有相同数量的第一开关，每一第一开关的第一端接地，每一第二开关的第二端连接一直流电源；一编码器，包括与该第一开关相同数量的输入端和若干输出端，该编码器的输入端分别连接对应的第一开关的第二端以接收对应的第一开关所输出的信号，当该第一开关闭合时，该第一开关输出低电平信号，当该第一开关断开时，该第一开关输出高电平信号，该编码器用于将这些第一开关所输出的信号转为二进制数据，并通过该编码器的输出端输出；一微处理器，包括与该编码器的输出端数量相同的输入端、第一和第二时钟信号输出端，该微处理器的输入端分别对应连接该编码器的输出端以接收该编码器所输出的二进制数据，该微处理器根据所接收的二进制数据输出对应个数的类型选择信号，且每一类型选择信号包括指定个数的时钟信号，每两个类型选择信号间隔一指定时间段，该微处理器的第一和第二时钟信号输出端分别连接该连接器的第一和第二金手指，以使得该微处理器所输出的类型选择信号通过该连接器和该PCI‑E插槽输入该主板的PCI‑E信号控制芯片，继而使得该PCI‑E信号控制芯片发出对应的待测PCI‑E信号至该PCI‑E插槽；以及与该待测试PCI‑E信号相同数量的连接端子，每一连接端子连接该PCI‑E插槽对应的金属端子以导出来自该PCI‑E插槽的待测PCI‑E信号，以便测试仪器进行测试。