[发明专利]一种获得超材料折射率分布的方法及其装置有效
| 申请号： | 201110396297.4 | 申请日： | 2011-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN103136405A | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 刘若鹏;季春霖;岳玉涛;李勇祥 | 申请（专利权）人： | 深圳光启高等理工研究院 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何青瓦 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种获得超材料折射率分布的方法及其装置，所述方法包括：采用仿真方式使电磁波透过所述超材料；获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据，包括所述电磁波透过所述超材料后的远场数据；判断目标远场数据与所述获取的仿真远场数据之间的差距是否大于阈值；若所述远场数据之间的差距大于阈值，改变所述超材料的折射率分布，并返回采用仿真方式使电磁波透过所述超材料的步骤，直至所述远场数据之间的差距小于或等于阈值。通过上述方式，本发明采用仿真方式，能够节省大量的人力物力财力，可以比较有针对性地、较快地设计出满足要求的目标超材料。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 获得 材料 折射率 分布 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种获得超材料折射率分布的方法，其特征在于，包括：采用仿真方式使电磁波透过所述超材料；获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据，包括所述电磁波透过所述超材料后的远场数据；判断目标远场数据与所述获取的仿真远场数据之间的差距是否大于阈值；若所述远场数据之间的差距大于阈值，改变所述超材料的折射率分布，并返回采用仿真方式使电磁波透过所述超材料的步骤，直至所述远场数据之间的差距小于或等于阈值。
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