[发明专利]一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置有效
| 申请号： | 201110384060.4 | 申请日： | 2011-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN102426861A | 公开（公告）日： | 2012-04-25 |
| 发明（设计）人： | 李静;张英文;纪奎;张磊;白宗元;窦晓光;李旭;刘朝辉 | 申请（专利权）人： | 曙光信息产业（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 | 代理人： | 徐国文 |
| 地址： | 100084 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试DDR3数据有效窗口的方法，先计算出DDR3的数据有效窗口大小，再根据窗口大小设置读数据采样时钟的相位。本发明提供的测试DDR3数据有效窗口的方法，可在对DDR3内存的硬件设计之后，通过所述测试DDR3数据有效窗口的方法和装置测试出数据有效窗口大小，然后在对DDR3控制器设计中直接根据测试得到的窗口大小设置读时钟采样点位置，提高了硬件设计的效率，降低了PCB的布局布线难度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 ddr3 数据 有效 窗口 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测试DDR3数据有效窗口的方法，其特征在于，所述方法包括：计算DDR3的数据有效窗口大小，根据窗口大小设置读数据采样时钟的相位，记录Pmin和Pmax；其中，所述Pmin为数据匹配采样时钟最小相位；所述Pmax为数据匹配采样时钟最大相位。
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