[发明专利]一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法

摘要

本发明涉及一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法，其特征在于：根据暗室条件选择满足中场条件的中场距离，对被测天线进行测试，获得被测天线的中场数据采用Hankel函数的外推方法将所得的中场数据变换成远场E^F(k，R)。本发明的方法，根据被测天线的工作波长λ，口径尺寸D计算该天线的中场测试条件R₀和远场测试条件R₁，判断室内测试距离R能否满足中场条件。根据暗室条件选择满足中场条件的中场距离，对被测天线进行测试，获得被测天线的中场数据采用Hankel函数的外推方法将所得的中场数据变换成远场数据E^F(k，R)。优越性是：能通过中场测试数据获得远场数据，大大缩减了测试距离，实现了大尺寸天线的室内测试。

主权项

1.一种基于Hankel函数外推的天线中场测试方法，其特征在于若室内测试距离R不能满足远场条件而满足中场条件，测试步骤如下：步骤1：根据暗室条件选择满足中场条件的中场距离，对被测天线进行测试，获得被测天线的中场数据步骤2：采用Hankel函数的外推方法将所得的中场数据变换成远场E^F(k，R)其中：k为传播常数，为原点到场点的矢量的相角，原点到源的矢量的相角，R₀为原点到场点的距离，为Hankel函数；所述中场条件为：其中：λ为被测天线的工作波长，D为天线的口径尺寸。