[发明专利]用于检测玻璃衬底的表面缺陷的设备和方法有效
| 申请号： | 201110358433.0 | 申请日： | 2011-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN102954970A | 公开（公告）日： | 2013-03-06 |
| 发明（设计）人： | 黄圭弘;金泰皓;郑址和;权载勋;马克·肯曼;玛寇·瓦泰尔;艾瑞克·路赫斯;安捷斯·博克 | 申请（专利权）人： | 三星康宁精密素材株式会社;宝斯拉视觉技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/896 | 分类号： | G01N21/896;H05B37/02 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 臧建明 |
| 地址： | 韩国庆尚北*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测玻璃衬底的表面缺陷的设备和方法用于检测玻璃衬底的表面缺陷的设备，包含：第一照相装置，安置在玻璃衬底上方以便拍摄玻璃衬底上的表面缺陷的第一图像；第二照相装置，安置在玻璃衬底上方以便拍摄玻璃衬底上的表面缺陷的第二图像；暗场照明系统，安置在玻璃衬底下方以充当朝向第一照相装置和第二照相装置而穿透玻璃衬底的暗场照明；以及检测信号处理器，其操作第一图像上的缺陷位置的坐标和第二图像上的缺陷位置的坐标，其中第一照相装置和第二照相装置形成呈不平行于玻璃衬底的至少转移方向的线形状的照相区域，形成针对玻璃衬底的顶部表面的将彼此重叠的照相区域，且形成针对玻璃衬底的底部表面的彼此不同的照相区域。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 玻璃 衬底 表面 缺陷 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种发光二极管点灯装置，其特征在于包括：发光二极管点灯电路；以及发光二极管负载，将并联连接有多个发光二极管元件的多个并联电路串联连接、并且连接于所述发光二极管点灯电路的输出端，所述各并联电路在1个发光二极管元件成为开放故障模式时，剩余的发光二极管元件继续点灯，在2个以上的发光二极管元件成为开放故障模式时，剩余的发光二极管元件是利用过电流而成为开放故障模式，从而所有的发光二极管元件熄灭。
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