[发明专利]电子测试系统与相关方法

摘要

一种电子测试系统与相关方法，设有第一与第二连接端、一讯源端、第一与第二测量端、一切换电路、第五与第七开关；第一与第二连接端分别用以耦接一受测芯片的两脚位；讯源端用以耦接一信号产生器；第一与第二测量端用以耦接一测量机台；切换电路于第一前侧端与第四前侧端耦接讯源端，于第一与第四后侧端分别耦接第一与第二连接端，控制第一前侧端与第一后侧端间的导通，并控制第四前侧端与第四后侧端间的导通；第五开关耦接于第四后侧端与第一测量端间，第七开关耦接于第一连接端与第二测量端间。

主权项

一种电子测试系统，测试一芯片；该电子测试系统包含：一第一连接端与一第二连接端，分别用以耦接该芯片的两脚位；一讯源端，用以耦接一信号产生器；一第一测量端与一第二测量端，用以耦接一测量机台；一切换电路，具有一第一前侧端、一第四前侧端、一第一后侧端与一第四后侧端，该第一前侧端与该第四前侧端耦接该讯源端，该第一后侧端与该第四后侧端分别耦接该第一连接端与该第二连接端；该切换电路控制该第一前侧端与该第一后侧端间的导通，并控制该第四前侧端与该第四后侧端间的导通；一第五开关，耦接于该第四后侧端与该第一测量端间，选择性地导通于该第四后侧端与该第一测量端间；以及一第七开关，耦接于该第一连接端与该第二测量端间，选择性地导通于该第一连接端与该第二测量端间；其中，该电子测试系统运作于一检查模式与一测试模式；当该电子测试系统运作于该检查模式时，该第五开关导通；当该电子测试系统运作于该测试模式时，该第五开关与该第七开关皆不导通。