[发明专利]测定物体位置的装置及方法

摘要

本发明是一种测定物体位置的方法，包括分别侦测发光模块由基准点发出的光线分别被长条状呈“L”型的反射镜及回射器反射及回射而得到的第一信号及第二信号；处理该第一信号及该第二信号，得到被物体直接阻挡或间接阻挡由基准点发出的光线分别与第一反射单元及第二反射单元之间的多个角度A1及多个角度A2；依据多个角度A1分别与每一个角度A2的组合分别转换得到多个坐标；然后比对该多个坐标，由该多个坐标中选出至少有两个坐标值相同的坐标，以确认物体在工作区的相对坐标，可以同时测定多个物体的位置，方便进行多点触控，并且可以测定被阻挡的物体的坐标。

主权项

一种测定物体位置的装置，其特征在于包括：一发光模块；一第一反射单元，为长条状；一第二反射单元，为长条状；一混合式反射单元，包括分别为长条状呈“L”型的反射镜及回射器所组成，该回射器置于该反射镜的上方或下方其中之一；该混合式反射单元、该第一反射单元及第二反射单元围成一个接近矩形的工作区；该第一反射单元及该第二反射单元分别位于该混合式反射单元的两侧端；该第一反射单元及该第二反射单元的接触点为该工作区一角被设为基准点；该发光模块由该基准点的位置发出光线照射整个该工作区或扫描整个该工作区其中之一；一光侦测单元，通过该反射镜侦测被至少一物体直接及间接阻挡的光线而得到的第一信号；并通过该回射器侦测被物体直接阻挡的光线而得到的第二信号；其中该第一信号包含对应于该物体的多个第一弱信号；该第二信号包含对应于该物体的至少一个第二弱信号；一信号处理单元，电气连接该光侦测单元；该信号处理单元处理该第一信号及该第二信号，得到被该物体直接及间接阻挡由基准点发出的光线分别与第一反射单元及第二反射单元之间对应于该第一弱信号的多个角度A1及对应于该第二弱信号的多个角度A2；一微处理器，电气连接该信号处理单元；该微处理器依据该多个角度A1分别与每一个该角度A2的组合分别转换得到多个坐标；然后比对该多个坐标，由该多个坐标中选出至少有两个坐标值相同的坐标，以确认物体在工作区的相对坐标。