[发明专利]用于待测功率器件的零安培电平电流数据校正有效

专利信息
申请号: 201110336772.9 申请日: 2011-10-21
公开(公告)号: CN102645567A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: T·米亚扎基 申请(专利权)人: 特克特朗尼克公司
主分类号: G01R15/18 分类号: G01R15/18
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李湘;王忠忠
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 设备和方法校正电流信号中的零安培电平电流波动。第一和第二采集电路系统产生电流信号相应的电流和电压数据样本。提取表示电流信号的零安培电平偏差的电流波动数据样本以与电流信号的关断周期对应。内插关断周期的电流波动数据样本以产生表示电流信号的导通周期的零安培电平偏差的电流波动数据样本。从电流信号的电流数据样本减去关断周期和导通周期的电流波动数据样本以产生校正的零安培电平电流数据样本。
搜索关键词: 用于 功率 器件 安培 电平 电流 数据 校正
【主权项】:
一种用于校正表示来自待测器件的电流信号的电流数据样本的方法,包括步骤:利用耦联至所述待测器件的电流传感器接收所述电流信号并产生表示来自所述待测器件的所述电流信号的电流数据样本;利用电压探针接收与来自所述待测器件的所述电流信号对应的电压信号并产生表示所述电压信号的电压数据样本;提取表示所述电流数据样本与零安培电平的偏差的电流波动数据样本,所述电流波动数据样本与所述待测器件的关断周期对应,通过在所述电压数据样本中检测所述待测器件相应的关断周期得到所述待测器件的关断周期;内插所述待测器件的所述关断周期的所述电流波动数据样本,用于产生与所述待测器件的导通周期对应的电流波动数据样本;从表示所述电流信号的所述电流数据样本减去与所述待测器件的所述关断周期和导通周期对应的所述电流波动数据样本,以产生校正的零安培电平电流数据样本;以及利用所述校正的零安培电平电流数据样本产生波形显示。
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