[发明专利]弥散张量成像方法及系统有效
| 申请号： | 201110318778.3 | 申请日： | 2011-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN102309328A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 吴垠;刘伟;刘新;郑海荣;邹超;张娜 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种弥散张量成像方法，包括以下步骤：通过相同的变密度采样形式分别对成像对象在各个弥散梯度方向进行K空间欠采样，得到各个弥散梯度方向的K空间欠采样数据；选取各个弥散梯度方向的K空间欠采样数据中任意一个弥散梯度方向的K空间欠采样数据作为参考K空间数据，将参考K空间数据变换得到参考图；分别将各个弥散梯度方向的K空间欠采样数据与参考K空间数据作差，得到各个弥散梯度方向的差值图K空间欠采样数据；对各个弥散梯度方向的差值图K空间欠采样数据进行重建，得到各个弥散梯度方向的差值图；将所述各个弥散梯度方向的差值图与所述参考图相结合得到各个弥散梯度方向上的弥散张量图像。同时还提供了一种弥散张量成像系统。 | ||
| 搜索关键词： | 弥散 张量 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种弥散张量成像方法，其特征在于，包括以下步骤：通过相同的变密度采样形式分别对成像对象在各个弥散梯度方向进行K空间欠采样，得到各个弥散梯度方向的K空间欠采样数据；选取所述各个弥散梯度方向的K空间欠采样数据中任意一个弥散梯度方向的K空间欠采样数据作为参考K空间数据，将参考K空间数据变换得到参考图；分别将所述各个弥散梯度方向的K空间欠采样数据与所述参考K空间数据作差，得到各个弥散梯度方向的差值图K空间欠采样数据；对所述各个弥散梯度方向的差值图K空间欠采样数据进行重建，得到各个弥散梯度方向的差值图；将所述各个弥散梯度方向的差值图与所述参考图相结合得到各个弥散梯度方向上的弥散张量图像。
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