[发明专利]硅片测试机台与BIST模块的通信方法无效

专利信息
申请号: 201110267100.7 申请日: 2011-09-09
公开(公告)号: CN102999459A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 雷冬梅;赵锋 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G06F13/38 分类号: G06F13/38
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种硅片测试机台与BIST模块的通信方法,在硅片测试机台和BIST模块之间设置三根独立的串行通信信号线,分别是:指令和数据线(TDIO),传输指令和数据;时钟线(TCLK),传输时钟信号;开始线(STROBE),传输开始信号;当接收方收到开始线(STROBE)上传输的开始信号,就表示下一个指令或数据即将传输,接收方从而做好接收该指令或数据的准备。本发明所述通信方法的接口控制信号少,只需要三根信号线;还采用的独立的开始线,在每条指令或数据开始传输之前都先发送一个开始信号,大大方便了测试时调试。
搜索关键词: 硅片 测试 机台 bist 模块 通信 方法
【主权项】:
一种硅片测试机台与BIST模块的通信方法,其特征是,在硅片测试机台和BIST模块之间设置三根独立的串行通信信号线,分别是:——指令和数据线(TDIO),传输指令和数据;——时钟线(TCLK),传输时钟信号;——开始线(STROBE),传输开始信号;当接收方收到开始线(STROBE)上传输的开始信号,就表示下一个指令或数据即将传输,接收方从而做好接收该指令或数据的准备。
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