[发明专利]多位/单元非挥发性内存的测试方法及多模式配置方法无效
| 申请号： | 201110252619.8 | 申请日： | 2011-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN102937929A | 公开（公告）日： | 2013-02-20 |
| 发明（设计）人： | 黄汉龙;周铭宏 | 申请（专利权）人： | 擎泰科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京泛诚知识产权代理有限公司 11298 | 代理人： | 陈波;文琦 |
| 地址： | 中国台湾300*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种多位/单元(multi-bit per cell)非挥发性内存的测试方法，包含藉由写入及读取来测试n位/单元(n-bpc)非挥发性内存，其包含多个m-bpc页，其中m为1至n之间的正整数。如果m-bpc页经测试失败，则将失败m-bpc页所相应区块计入(m-1)-bpc区块，其中每一个该m-bpc页最多进行一次的写入及读取。当m等于1时，则0-bpc区块对应至坏区块。 | ||
| 搜索关键词： | 单元 挥发性 内存 测试 方法 模式 配置 | ||
【主权项】：
一种多位/单元非挥发性内存的测试方法，包含：藉由写入及读取来测试一n位/单元非挥发性内存，其包含多个m‑bpc页，其中m为1至n之间的正整数；如果所述m‑bpc页经测试失败，则将该失败m‑bpc页所相应的区块计入(m‑1)‑bpc区块；其中每一个m‑bpc页最多进行一次的写入及读取。
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