[发明专利]一种岩样孔隙度测定方法无效
| 申请号： | 201110211115.1 | 申请日： | 2011-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN102901695A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 鲍云杰;陈红宇 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人： | 刘明华 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种岩样孔隙度测定方法，属于油气地质勘探开发领域。所述方法首先测定并计算获得岩样的实体体积，然后在岩样的外表面包裹薄膜，测定并计算包裹薄膜后的岩样的体积，再将薄膜从岩样上剥离下来，测定并计算薄膜的体积，然后计算包裹薄膜后的岩样的体积与薄膜的体积之差获得岩样总体积，计算岩样总体积与岩样的实体体积之差获得岩样孔隙体积，最后计算岩样孔隙体积与岩样总体积的比值获得岩样孔隙度。本发明简化了岩样孔隙度测定方法，缩短了分析周期，提高了工作效率；减少了应用的仪器材料，提高了分析精度，降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 孔隙 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种岩样孔隙度测定方法，其特征在于：所述方法首先测定并计算获得岩样的实体体积，然后在岩样的外表面包裹薄膜，测定并计算包裹薄膜后的岩样的体积，再将薄膜从岩样上剥离下来，测定并计算薄膜的体积，然后计算包裹薄膜后的岩样的体积与薄膜的体积之差获得岩样总体积，计算岩样总体积与岩样的实体体积之差获得岩样孔隙体积，最后计算岩样孔隙体积与岩样总体积的比值获得岩样孔隙度。
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