[发明专利]一种单光子计数成像系统及其方法有效
| 申请号： | 201110103559.3 | 申请日： | 2011-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN102759408A | 公开（公告）日： | 2012-10-31 |
| 发明（设计）人： | 杜克铭;翟光杰;蒋远大;刘雪峰;赵清 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 | 代理人： | 杨小蓉;高宇 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种单光子计数成像系统及其方法，该系统包括：滤光片、第一透镜(1)、DMD控制系统、第二透镜(2)、单光子计数器和数据处理单元；其中，DMD结合第一透镜(1)和第二透镜(2)，用于将二维图像数据转化为一维数据序列完成被测信号的压缩采样，极弱光通过滤光片滤除杂光，经第一透镜(1)在DMD控制系统处成像，并由DMD控制系统控制光子被反射到第二透镜(2)的概率，经过第二透镜(2)控制光子聚焦；数据处理单元结合单光子计数器完成稀疏重建，数据处理单元根据单光子计数器在一定时间内对光子进行计数折算成探测到光子数的概率作为测量值，和DMD控制系统上的测量矩阵经过最优化算法重建光子密度图像，解算出二维图像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光子 计数 成像 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种单光子计数成像系统，其特征在于，该单光子计数成像系统采用压缩传感理论和DLP技术，并以单光子计数器为探测元件，实现了单光子级别的极弱光对象的二维成像，所述的单光子计数成像系统包括：滤光片、第一透镜(1)、DMD控制系统、第二透镜(2)、单光子计数器和数据处理单元；其中，DMD结合第一透镜(1)和第二透镜(2)，用于将二维图像数据转化为一维数据序列完成被测信号的压缩采样，极弱光通过滤光片滤除杂光，经第一透镜(1)在DMD控制系统处成像，并由DMD控制系统控制光子被反射到第二透镜(2)的概率，经过第二透镜(2)控制光子聚焦；数据处理单元结合单光子计数器完成稀疏重建，数据处理单元根据单光子计数器在一定时间内对光子进行计数折算成探测到光子数的概率作为测量值，和DMD控制系统上的测量矩阵经过最优化算法重建光子密度图像，解算出二维图像。
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