[发明专利]薄膜形成装置及薄膜形成方法无效

专利信息
申请号: 201080014488.3 申请日: 2010-04-14
公开(公告)号: CN102378826A 公开(公告)日: 2012-03-14
发明(设计)人: 篠川泰治;涩谷聪;本田和义;岛田隆司;神山游马;山本昌裕 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: C23C14/56 分类号: C23C14/56;C23C14/50;C23C16/54
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 段承恩;杨光军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在使用气体冷却的成膜方法中,一边实现充分的冷却效果一边避免因气体导入导致成膜率下降和/或对真空泵施加过大的载荷。本发明的薄膜形成装置,具备:在薄膜形成区域(9)具有与基板(7)的背面接近的冷却面(10s)的冷却体(10);以及向冷却面(10s)和基板(7)的背面之间导入气体的气体导入单元,冷却面在基板的宽度方向剖面中具有中央部比两端部向基板7的背面突出的形状。优选的是,冷却面具有在基板的宽度方向剖面中左右对称的形状,更优选地,具有由悬垂曲线表示的形状。
搜索关键词: 薄膜 形成 装置 方法
【主权项】:
一种薄膜形成装置,其在真空中在具有表面和背面的带状基板的所述表面上形成薄膜,其中:具备:输送机构,其输送所述基板;薄膜形成单元,其在输送的所述基板的所述表面上在薄膜形成区域内形成薄膜;冷却体,其在所述薄膜形成区域具有与所述背面接近的冷却面,并由冷媒冷却;气体导入单元,其向所述冷却面和所述背面之间导入冷却气体以冷却所述基板;和真空容器,其收置所述输送机构、所述薄膜形成单元、所述冷却体和所述气体导入单元;所述冷却面具有下述形状:在所述基板的宽度方向剖面中,与两端部相比中央部向所述背面突出。
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