[实用新型]测试头结构及测试头有效
| 申请号： | 201020645563.3 | 申请日： | 2010-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN201867428U | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 鲁常垚;马贝;曾艳军;邵庆云;吴耀华;彭朝阳 | 申请（专利权）人： | 深圳顺络电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 518110 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试头结构，包括导电的第一测试头和与所述第一测试头相对设置的导电的第二测试头，所述第一测试头包括板状基部和从所述板状基部上延伸出来的细长臂，所述细长臂的延伸方向与所述板状基部设定的触压方向形成锐角。克服了传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，本实用新型提供一种简易方便且不易磨损的测试头结构和相应的一种测试头。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种测试头结构，其特征在于,包括导电的第一测试头和与所述第一测试头相对设置的导电的第二测试头，所述第一测试头包括板状基部和从所述板状基部上延伸出来的细长臂，所述细长臂的延伸方向与所述板状基部设定的触压方向形成锐角。
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