[实用新型]一种D-SUB端子的测试插座改进结构无效
| 申请号： | 201020554648.0 | 申请日： | 2010-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN201845952U | 公开（公告）日： | 2011-05-25 |
| 发明（设计）人： | 江炜 | 申请（专利权）人： | 钛积光电(厦门)有限公司 |
| 主分类号： | H01R13/631 | 分类号： | H01R13/631 |
| 代理公司： | 厦门市诚得知识产权代理事务所 35209 | 代理人： | 方惠春 |
| 地址： | 361021 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子测试装置，尤其涉及对显示器进行测试用的D-SUB端子的测试插座的改进。本实用新型的D-SUB端子的测试插座改进结构，是显示器测试机的信号线连接的一测试插座。其中改进之处在于：所述的测试插座的两侧均设有垂直的引导杆。进一步的，所述的引导杆的直径与D-SUB端子的支撑杆通孔的直径相当。本实用新型采用如下技术方案，克服了已有技术中存在的不足，可以保障D-SUB端子插入测试插座时的角度为垂直，减少D-SUB端子及信号线的磨损，延长使用寿命，并且保证插入后二者稳固性，从而保证测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sub 端子 测试 插座 改进 结构 | ||
【主权项】：
一种D SUB端子的测试插座改进结构，是显示器测试机(3)的信号线(23)连接的一测试插座(2)，其特征在于：所述的测试插座(2)的两侧均设有垂直的引导杆(22)。
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