[发明专利]密集波分复用系统光设备评估及参数测试方法有效
| 申请号： | 201010254329.2 | 申请日： | 2010-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN102377480A | 公开（公告）日： | 2012-03-14 |
| 发明（设计）人： | 张红宇;沈百林 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/08 | 分类号： | H04B10/08;H04Q11/00;H04J14/02 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 解婷婷;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种密集波分复用系统光设备评估及参数测试方法，为DWDM系统光设备提供规范参数和评估方法以及该参数的测试方法。所述光设备评估方法包括：确定待评估光设备的相位参数测试值，将所述相位参数测试值与相位参数阈值进行比较，评估所述光设备是否可用。所述参数测试方法包括：在确定的通道频率范围内，调节光设备的相位参数，当系统的传输性能得以保证时，将此时的相位参数作为评估所述光设备的在所述通道频率范围内的第一相位参数阈值。 | ||
| 搜索关键词： | 密集 波分复用 系统 设备 评估 参数 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种密集波分复用系统光设备评估方法，包括：确定待评估光设备的相位参数测试值，将所述相位参数测试值与相位参数阈值进行比较，评估所述光设备是否可用。
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