[发明专利]测试电路的生成方法、装置和电源测试系统有效
| 申请号： | 201010222764.7 | 申请日： | 2010-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN101907689A | 公开（公告）日： | 2010-12-08 |
| 发明（设计）人： | 席志军 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 李健;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种测试电路的生成方法、装置和电源测试系统，涉及电子通信领域；解决现有技术中测试电路的生成复杂的问题。所述方法，包括：根据电源的性能信息，获取适应于所述电源的负载；通过对本地预先设置的负载模块进行连接关系的调整，将所述负载模块的负载总值调整为所述电源的负载，得到用于测试所述待测电源的测试电路。本发明提供的技术方案可应用于电子电路管理领域。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 生成 方法 装置 电源 系统 | ||
【主权项】：
一种测试电路的生成方法，其特征在于，包括：根据电源的性能信息，获取适应于所述电源的负载；通过对本地预先设置的负载模块进行连接关系的调整，将所述负载模块的负载总值调整为所述电源的负载，得到用于测试所述待测电源的测试电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司，未经中兴通讯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010222764.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
