[发明专利]集成电路结构与形成集成电路结构的方法无效
申请号: | 201010194525.5 | 申请日: | 2010-05-28 |
公开(公告)号: | CN101901823A | 公开(公告)日: | 2010-12-01 |
发明(设计)人: | 王明璁;邱建智;曹淳凯;罗际兴 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/24 | 分类号: | H01L27/24;H01L23/528;H01L21/82;H01L21/768 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 姜燕;邢雪红 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种集成电路结构与形成集成电路结构的方法,其中集成电路结构包括一介电层其具有一上部与一下部。该介电层为一层间介电层或一金属层间介电层之一。一相变随机存取存储器单元包括一相变条,其中该相变条为于该介电层的该下部上,且具有一上表面低于该介电层的上表面,与一下表面高于该介电层的下表面。一第一导电柱为电性连接至该相变条。该第一导电柱自该介电层的上表面向下延伸进入该介电层。一第二导电柱为于一周边区域中。该第二导电柱自该介电层的上表面向下延伸进入该介电层。该第一导电柱与该第二导电柱具有不同的高度。相变随机存取存储器单元的形成工艺以只需要三个或更少的额外的光罩与周边电路的形成相容。因此减少制造成本。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 结构 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种集成电路结构,包括:一介电层包括一上部与一下部,其中该介电层择自实质上由一层间介电层与一金属层间介电层所组成的群组;一相变随机存取存储器单元包括一相变条,其中该相变条为于该介电层的该下部上,且包括一上表面低于该介电层的上表面,与一下表面高于该介电层的下表面;一第一导电柱电性连接至该相变条,其中该第一导电柱自该介电层的上表面向下延伸进入该介电层;以及一第二导电柱于一周边区域中,其中该第二导电柱自该介电层的上表面向下延伸进入该介电层,且其中该第一导电柱与该第二导电柱具有不同的高度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的