[发明专利]等效全向灵敏度测试方法和装置有效

专利信息
申请号: 201010159302.5 申请日: 2010-04-26
公开(公告)号: CN102237933A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 李文;谢辉 申请(专利权)人: 深圳市鼎立方无线技术有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04B1/38
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 廖元秋
地址: 518102 广东省深圳市宝安区西*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出了一种EIS测试方法,包括以下步骤:在多个空间位置对移动终端进行EIRP测量,以获得多个空间位置对应的多个EIRP测量值;以多个空间位置中的任一个空间位置作为基准空间位置对移动终端进行EIS测量,以获得对应基准空间位置的EIS测量值;根据基准空间位置的EIS测量值和EIRP测量值,以及待测量空间位置所对应的EIRP测量值,获得待测量空间位置的EIS计算值;和以EIS计算值作为估计值对待测量空间位置进行EIS测量,得到待测量空间位置的EIS测量值。由于本发明实施例采用计算的EIS计算值作为估计值比较准确,因此可以极大地减少测试搜索的次数,从而大大地提高测试速度。
搜索关键词: 等效 全向 灵敏度 测试 方法 装置
【主权项】:
一种等效全向灵敏度EIS测试方法,其特征在于,包括以下步骤:在多个空间位置对移动终端进行等效全向辐射功率EIRP测量,以获得所述多个空间位置对应的多个EIRP测量值;以所述多个空间位置中的任一个空间位置作为基准空间位置对所述移动终端进行EIS测量,以获得对应所述基准空间位置的EIS测量值;从所述多个空间位置中选择任一个空间位置作为待测量空间位置,并根据所述基准空间位置的EIS测量值和EIRP测量值,以及所述待测量空间位置所对应的EIRP测量值,获得所述待测量空间位置的EIS计算值;和以所述EIS计算值作为估计值对所述待测量空间位置进行EIS测量,得到所述待测量空间位置的EIS测量值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市鼎立方无线技术有限公司,未经深圳市鼎立方无线技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010159302.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top