[发明专利]聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法有效
| 申请号： | 201010136040.0 | 申请日： | 2010-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN102207445A | 公开（公告）日： | 2011-10-05 |
| 发明（设计）人： | 刘俊玲;郭学冬;高攀;张维平;赵勤 | 申请（专利权）人： | 北京众智同辉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100166*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，包括一个稳态湿热箱，将聚合物分散型液晶膜样品置于所述稳态湿热箱中进行老化处理；老化处理完毕后取出所述聚合物分散型液晶膜样品，人工测量所述聚合物分散型液晶膜样品边缘的开胶长度尺寸和宽度尺寸；所述老化处理的时间是45-50小时，所述老化处理的温度是55℃-65℃，所述老化处理的湿度是90％-99％。本发明真实模拟大气和使用环境条件，采用湿热老化方式加速聚合物分散型液晶膜性能的改变，加速胶层的老化和湿气的渗透，从而获得可靠结果，为后期使用、储存提供参考依据，以便改进和提高产品的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 聚合物 分散 液晶 开胶 性能 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，其特征在于：包括一个稳态湿热箱，将聚合物分散型液晶膜样品置于所述稳态湿热箱中进行老化处理；老化处理完毕后取出所述聚合物分散型液晶膜样品，人工测量所述聚合物分散型液晶膜样品边缘的开胶长度尺寸和宽度尺寸；所述老化处理的时间是45‑50小时，所述老化处理的温度是55℃‑65℃，所述老化处理的湿度是90％‑99％。
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