[发明专利]无源静态共轴干涉成像光谱全偏振探测装置有效
| 申请号： | 201010127350.6 | 申请日： | 2010-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN101793558A | 公开（公告）日： | 2010-08-04 |
| 发明（设计）人： | 朱京平;李杰;黄华 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01N21/21;G02B27/28;G02B5/00 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人： | 刘国智 |
| 地址： | 710049*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 无源静态共轴干涉成像光谱全偏振探测装置包括共轴设置有的前置光学远望系统，静态全光调制模块，基于萨瓦板的静态干涉成像光谱仪，成像镜组，探测器，探测器后连接有信号获取与处理系统；目标源发出的光通过前置望远系统准直后经静态全光调制模块2调制，再经过基于萨瓦板的静态干涉成像光谱仪后，变成两束偏振光，这两束光经成像镜组后汇聚于探测器5上成像并发生干涉，最后送入信号获取与处理系统6；本发明具有结构简单紧凑、无运动部件、光通量大、可一次性获得目标二维空间像、一维光谱信息和完整偏振信息的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 无源 静态 干涉 成像 光谱 偏振 探测 装置 | ||
【主权项】：
无源静态共轴干涉成像光谱全偏振探测装置，其特征在于：共轴设置有：最前端的前置光学远望系统(1)，紧接着为静态全光调制模块(2)，接下来为基于萨瓦板的静态干涉成像光谱仪(3)，基于萨瓦板的静态干涉成像光谱仪(3)后配置一成像镜组(4)，成像镜组(4)之后为探测器(5)，探测器(5)后连接有信号获取与处理系统(6)。
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