[发明专利]用于太阳电池防护涂层光学性能原位测试的光度计无效
| 申请号： | 201010107515.3 | 申请日： | 2010-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN101788476A | 公开（公告）日： | 2010-07-28 |
| 发明（设计）人： | 赵慧洁;张颖;唐吾;邢辉;张庆祥;王立 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人： | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址： | 100191 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于太阳电池防护涂层光学性能原位测试的光度计，由外壳、测量通道、参考通道、热探测器和数据采集底座组成，其中外壳装载与保护所有元器件；测量通道由涂覆有防护涂层的防辐射玻璃盖片和三结点太阳电池组成，参考通道由防辐射玻璃盖片和同样的三结点太阳电池组成；热探测器为薄膜热探测器，置于参考通道的太阳电池侧边；数据采集底座内置信号采集板卡。防护涂层接受模拟空间环境的辐照后，根据两个通道输出功率的变化，结合标定的太阳电池损伤特征曲线，可以分离涂层退化与太阳电池退化的耦合影响，从而计算得到涂层光学性能的变化。本发明结构简单、时间常数小、测试精度高，可以实现模拟空间环境中防护涂层光学性能的原位测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 太阳电池 防护 涂层 光学 性能 原位 测试 光度计 | ||
【主权项】：
一种用于太阳电池防护涂层性能原位测试的光度计，其特征在于：包括外壳(1)、防辐射玻璃盖片(2)、太阳电池防护涂层(3)、玻璃盖片固定件(4)、三结点太阳电池(5)、热探测器(6)、数据采集底座(7)，其中外壳(1)装载和保护其它的器件；该外壳固定于数据采集底座(7)上；涂覆有太阳电池防护涂层(3)的防辐射玻璃盖片(2)被玻璃盖片固定件(4)固定在外壳(1)上，它们与三结点太阳电池组成测量通道；用玻璃盖片固定件(4)固定住的另一块同型号的防辐射玻璃盖片(2)与另一个同型号的三结点太阳电池(5)组成参考通道；热探测器(6)紧贴参考通道的三结点太阳电池(5)；数据采集底座(7)内置信号采集板卡。
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