[发明专利]光记录介质用物镜的检查方法

摘要

本发明提供一种光记录介质用物镜的检查方法，该光记录介质用物镜的检查方法在设计温度和检查温度不同时，更加公正地辨别物镜的好坏。该检查方法检查将第1温度作为设计温度而设计出的塑料制的光记录介质用物镜，包括：第1工序，求出在与第1温度不同的第2温度中的物镜的形状及折射率；第2工序，决定计算用平行平板的厚度，以便由具有在第2温度中的形状及折射率的物镜和与检查用平行平板相同的材质且具有在第2温度中的折射率的计算用平行平板构成的光学系统的像差变为最小；第3工序，利用与在第2工序中决定的计算用平行平板的厚度相同的厚度的检查用平行平板，在第2温度中检查根据设计所制作的物镜。

主权项

一种光记录介质用物镜的检查方法，在按照使从光源出射的光通过光记录介质的透光性的保护层而聚光在上述光记录介质的规定位置的方式对将第1温度作为设计温度而设计的塑料制的光记录介质用物镜进行检查时，将取代上述保护层的检查用平行平板插入到通过该物镜所聚光的光的光路而进行检查，其特征在于，包括：第1工序，其中求出在与上述第1温度不同的第2温度下的上述物镜的形状及折射率；第2工序，其中按照由具有上述第2温度下的形状及折射率的上述物镜和与上述检查用平行平板相同的材质且具有上述第2温度下的折射率的计算用平行平板构成的光学系统的像差变为最小的方式，决定上述计算用平行平板的厚度；第3工序，其中利用与在上述第2工序中决定的上述计算用平行平板的厚度相同的厚度的上述检查用平行平板，在上述第2温度下对基于上述设计而制作的上述物镜进行检查。