[发明专利]用于存储装置测试的LDPC码纠错能力调节有效
| 申请号： | 200980147644.0 | 申请日： | 2009-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN102227876A | 公开（公告）日： | 2011-10-26 |
| 发明（设计）人： | R·劳舍梅尔;宋宏伟 | 申请（专利权）人： | LSI公司 |
| 主分类号： | H03M13/00 | 分类号： | H03M13/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 刘倜 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及用于存储装置测试的LDPC码纠错能力调节。这里提供了用于调节LDPC纠错码的纠错能力的方法和结构。例如，一个实施例的系统包括解码器，其适于解码已经以LDPC纠错码编码的数据。所述系统还包括检测器，其通信地耦接到所述解码器并适于在所述解码器解码之前估计数据中的比特值。所述检测器进一步适于基于比特值估计改变比特值，以降低LDPC纠错码的纠错能力。纠错能力中的降低是可调节的以使得可以渐进地分析存储装置的扇区故障率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储 装置 测试 ldpc 纠错 能力 调节 | ||
【主权项】：
一种用于调节低密度奇偶校验纠错码的纠错能力的系统(10)，其特征在于，该系统包括：解码器(12)，其适于解码数据，其中所述数据被利用所述低密度奇偶校验纠错码编码；以及检测器(11)，其通信地耦接到所述解码器，并且适于在所述解码器解码之前估计所述数据中的比特值，其中所述检测器进一步适于基于比特值估计来改变比特值，以降低所述低密度奇偶校验纠错码的纠错能力。
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