[发明专利]填充物位确定系统和方法

摘要

一种使用微波测量容器(5)中的产品(6)的表面(7)的物位的雷达物位计系统(1)，包括设置成延伸到包含在容器(5)中的产品(6)中的波导(3)，其中多个基准阻抗转变部分(4a-j)被设置在沿着波导(3)的已知位置上并被配置成将发射电磁信号的一部分反射回到收发器(10)。优选地，每个所述基准阻抗转变部分(4a-j)具有当表面(7)的物位在基准阻抗转变部分之上时对电磁信号的第一反射系数、和当表面(7)的物位在基准反射器之下时对电磁信号的第二反射系数，第一反射系数显著低于第二反射系数。根据这种设计，可以实现更高精度的填充物位测量。

主权项

一种使用微波来测量容器(5)中的产品(6)的表面(7)的物位的雷达物位计系统(1)，包括：收发器(10)，用于生成、发射和接收在一个频率范围内的电磁信号；波导(3)，设置成延伸到包含在容器(5)中的所述产品(6)中，并且将从所述收发器(10)发射的信号引向所述产品(6)的表面(7)，并将在所发射电磁信号遇到的阻抗转变部分处的反射引起的回波信号引回到所述收发器(10)，所述回波信号包括在所述表面(7)处的反射引起的表面回波信号；处理电路(11)，与所述收发器(10)连接并设置成根据所发射电磁信号与所接收电磁信号之间的关系确定表面(7)的物位；接口(12)，用于提供到所述系统(1)外部的通信和将电力接收到雷达物位计系统(1)；以及多个基准阻抗转变部分(4a‑j)，被设置在沿着波导(3)的已知位置上并被配置成将所述发射电磁信号的一部分反射回所述收发器(10)，其中每个所述基准阻抗转变部分(4a‑j)具有当表面(7)的物位在所述基准阻抗转变部分之上时对所述电磁信号的第一反射系数、和当表面(7)的物位在所述基准阻抗转变部分(4a‑j)之下时对所述电磁信号的第二反射系数，所述第一反射系数显著低于所述第二反射系数。