[发明专利]测试装置及电路模块有效
| 申请号： | 200980142610.2 | 申请日： | 2009-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN102197313A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 安高刚;小岛昭二 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 设置有彼此相对配置的第1测试基板及第2测试基板；设置在所述第1测试基板中的与所述第2测试基板对着的面上，测试被测试器件的第1测试电路；设置在第2测试基板中的与第1测试基板对着的面上，测试被测试器件的第2测试电路；通过密闭第1测试基板及第2测试基板之间的空间，将第1测试电路及第2测试电路密闭在共同的空间内，且在共同的空间填充冷却材料的密闭部。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 电路 模块 | ||
【主权项】：
一种测试装置，是测试被测试器件的测试装置，其具有：相向配置的第1测试基板及第2测试基板；设置在所述第1测试基板中的与所述第2测试基板对着的面上，用于测试所述被测试器件的第1测试电路；设置在所述第2测试基板中与所述第1测试基板对着的面上，用于测试所述被测试器件的第2测试电路；通过密闭所述第1测试基板及所述第2测试基板之间的空间，将所述第1测试电路及所述第2测试电路密闭在共同的空间内，且在所述的共同的空间内填充冷却材料的密闭部。
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