[发明专利]利用光中子透射对物体成像的方法及探测器阵列有效

专利信息
申请号: 200910244358.8 申请日: 2009-12-29
公开(公告)号: CN102109473A 公开(公告)日: 2011-06-29
发明(设计)人: 李元景;杨祎罡;李铁柱;张勤俭;吴彬;王虹 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司;清华大学
主分类号: G01N23/05 分类号: G01N23/05;G01N23/09
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 范晓斌;杨松龄
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种利用光中子透射对物体成像的方法,包括步骤:使用中子准直器准直穿过物体的光中子射线以根据该中子准直线的位置确定光中子射线的位置信息;使用探测器模块探测被准直的光中子射线束,其中,探测器模块包括中子慢化体和位于该中子慢化体内部的至少一个热中子探测器,中子慢化体将光中子转化为热中子,热中子探测器测量该热中子以获得光中子射线束穿过物体时的衰减信息;综合所述位置信息和衰减信息以形成所述物体相应部分的图像。该方法利用中子准直器的位置决定光中子射线的位置信息,克服了由于光中子的慢化致使位置信息丧失从而导致无法成像的问题。该方法还通过设置探测器模块阵列来对物体进行成像。
搜索关键词: 利用 中子 透射 物体 成像 方法 探测器 阵列
【主权项】:
一种利用光中子透射对物体成像的方法,其使用光中子射线透射所述物体,其特征在于,包括以下步骤:使用中子准直器准直穿过所述物体的光中子射线以根据该中子准直线的位置确定所述光中子射线的位置信息;使用探测器模块探测被准直的光中子射线束,其中,所述探测器模块包括中子慢化体和位于该中子慢化体内部的至少一个热中子探测器,所述中子慢化体将所述光中子转化为热中子,所述热中子探测器测量该热中子以获得光中子射线束穿过所述物体时的衰减信息;和综合所述位置信息和衰减信息以形成所述物体相应部分的图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学,未经同方威视技术股份有限公司;清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910244358.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top